Mikroskopie

Werkzeuge der Nanowelt

erlaubt die Betrachtung der Oberflächenstruktur eines Materials auf atomarer Ebene.

Man unterscheidet:
  • Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM): dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen; misst die auf eine Spitze wirkende atomare Kraft
  • Raster-Elektronen-Mikroskopie (SEM): misst die Wechselwirkung von Elektronen mit Oberflächen
nacl3
  • Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (TEM): zur direkten Abbildung von Objekten mithilfe von Elektronenstrahlen
  • Raster-Tunnel-Mikroskopie (STM): Stromfluss zwischen Probe und Spitze des STM wird gemessen; nur für elektrisch leitende Proben